ZoomOptics可获得更准确的测量结果,无测量误差
ZoomOptics系统优化了探测器的视野,从而消除了孔径光阑造成的任何影响。结果是测量结果的精度显著提高。
超薄样品测量数据的超快记录(2MHz)
薄膜和高导电性材料需要非常高的数据采集速率,以准确记录样品上表面的快速温度升高。LFA 467 HyperFlash提供2 MHz的采样率,这是LFA系统的价值。
性能特点LFA 467 HyperFlash采用单一仪器设置,即无需更换探测器或熔炉,即可在-100 C至500 C之间进行测量。再加上市场上广泛的配件,该仪器为测定热物理性质开辟了全新的领域。
由于16个样品的样品架,样品吞吐量高出4倍LFA 467 HyperFlash的一个独特优势是能够在整个温度范围内同时测量多达16个样本。这允许以更小的操作时间和工作量输入实现更大的样本吞吐量。
再填充系统可用于探测器和熔炉上杜瓦瓶的自动再填充,允许LFA系统24小时不间断运行。
技术参数缩放光学系统:优化的视野(可选,不需要遮罩)
脉冲映射:用于有限脉冲校正和改进的cp测定
红外探测器
InSb:RT 500 C MCT:-100 C 500 C 探测器补充装置(可选)大气:惰性、氧化性、静态和动态
真空: 150毫巴
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