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aixACCT双光束激光干涉仪aixDBLI
机电大信号应变和极化测量。 压电小信号系数和介电常数与直流偏置电压的关系。如果已知刚度值，则可以使用附加的aixPlorer软件工具从这些值得出耦合系数。 电气和机电性能疲劳。 作为电气薄膜测试的创新者，aixACCT Systems已将公认的双光束技术扩展到可商用的双光束激光干涉仪系统，该系统可进行长达8英寸的晶圆表征。用于测量d33的双光束激光干涉仪（aixDBLI）可提供经过验证的精度（x切割石英），可达0.2 pm / V。该系统的主要特点是单次测量的采集时间极短，仅为几秒钟。基于新的数据采集算法
04.23
2023
THORLABS光纤端面干涉仪GL16
GL16光纤端面几何形状测量仪器使用非常简单，能够测量单芯和多芯接头的端面几何形状，并对其成像。它采用非接触式白光扫描干涉技术(SWLI)，能够提供高准确度、高重复性和高可靠性的光纤接头测试，尤其适合根据IEC或Telcordia标准进行的合格/不合格测试。系统既可以通过触摸屏进行本地控制，又可以通过基于浏览器的应用程序实施远程操作，易于集成到生产车间。 所有系统组件完全集成在封闭的外壳中。宽带宽570 nm LED光源配合迈克尔逊干涉物镜使用，测量间隔高度变化高达35 μm的相移。压电位移台相对于
04.23
2023
APRE INSTRUMENTS干涉仪S系列
APRE干涉仪 - 标准和定制 - 提高您的计量能力，使您可以满足客户的需求。从我们的 S 系列干涉仪中选择并构建适合您的系统。 在光学制造方面，不允许出现停机或不准确的情况。具有低成像分辨率和过时软件的干涉仪会牺牲时间和质量，从而削减利润并损害您的声誉。 性能特点 1百万像素 @160 Hz 衍射极限成像 10倍虚拟变焦 2倍更大的斜率接受度 快速、准确的表面和波前测量技术参数
04.23
2023
ANDOR光谱检测器DU970P,DU971P
EM 技术使来自每个像素的电荷在读出之前在传感器上成倍增加，从而提供单光子灵敏度。 Newton EM 平台结合了 1600 x 200（或 1600 x 400）的 16 μm 像素阵列、低至 -100°C 的可忽略暗电流的热电冷却、3 MHz 读数和 USB 2.0 即插即用连接，以提供好的性能用于光谱应用。双输出放大器允许在传统 CCD 或电子倍增输出之间进行软件选择，以适应广泛的光子状态条件。这使得 Newton EMCCD 成为超快化学绘图应用的理想选择，例如 SERS、TERS
04.23
2023
ANDOR光谱检测器iDus InGaAs 2.2
Andor 的 iDus InGaAs 2.2 阵列探测器系列为高达 2.2 µm 的光谱应用提供了优化的平台。 TE 冷却的真空传感器达到 -90°C 的冷却温度，可以实现更合适的信噪比。实际上，在场景黑体辐射占主要地位的 -90°C 以下，暗电流将适度改善，而传感器的量子效率将在这些较低温度下受到很大影响，并导致较低的信噪比。 性能特点 8 至 2.2
04.23
2023
LUMENTUM模拟光电探测器EPM 705
EPM 705 系列是为返回路径 AM CATV 应用而设计的高质量模拟光电探测器。这些同轴模块经过光学对准以优化性能并平衡响应度、失真和背反射参数。光电探测器芯片在晶圆厂中采用专有的 InGaAs 工艺制造，并组装到带有抗反射涂层透镜的密封封装中。不锈钢套管用于主动将光纤耦合到封装。 纤维用橡胶套加固，可减轻纤维弯曲应力。EPM 705 系列可以在没有连接器的情况下生产，也可以使用各种行业标准连接器进行生产。它们还提供安装支架，允许垂直面板安装和水平齐平安装。
04.23
2023
OPTOI反射式传感器OIER2
OIER2 反射式传感器由一个红色发光二极管和一个双 NPN 硅光电晶体管组成。这些组件并排安装在塑料黑色 SMD 外壳中。黑色封装可避免光反射、噪音，并充当 LED 和光接收器之间的屏障。仅当反射物体表面位于检测器的视场内时，光电晶体管才会响应从二极管发出的辐射。 性能特点 不聚焦用于感测漫射表面 SMT 封装 高均匀度 非常稳定的测量 高增益光电晶体管 无接触表面感应 体积小 低
04.23
2023
OPTOI绝对位置传感器OIS22
光学单位置传感器测量液压缸行程上的单点。它们是集成的、防篡改的并且对电磁场不敏感。我们专门为农业和土方机械设计了光学位置传感器；即使应用传感器的机器在恶劣的环境中运行，传感器的坚固设计也能保证更好的运行。性能特点 易于安装和更换 适用于所有杆直径，无需钻孔 非侵入式、集成式和非接触式 可安装在通过气缸上 无需校准 抗电磁噪音和振动 高可靠性（MTTF = 180 年） 准确、坚决和可重复 具有自适应算法的智能电子设备 机上多项诊断 范围高达5m
04.23
2023
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