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FIRST SENSOR压力传感器HCLA
HCLA系列压力传感器具有高精度数字信号调理功能，同时提供模拟与数字两类输出信号。HCLA系列压力传感器提供自校准和温度自补偿功能，并具有良好线性度。此外，该系列产品还采用特殊补偿技术实现极高偏移稳定性，几乎没有位置敏感性，设计用于非腐蚀性干燥气体。所有HCLA系列压力传感器均可根据客户需求进行定制。 性能特点 校准和温度补偿 匹配的压力端口容量 小型SMT和SIL外壳 符合RoHS
04.23
2023
Semiconsoft薄膜厚度测量系统MProbe Vis
MProbe Vis薄膜测量系统是紧凑且多功能的台式系统。它可以测量不同基板上10nm – 150μm厚度范围的半透明薄膜。而且，它经济且易于使用。MProbe Vis（X） 的生产版本设计用于承受振动并使用 LAN 连接 24/7 全天运行。它可用于在线和OEM应用。它与洁净室环境兼容。MProbe20 VisX系统是MProbe20 Vis系统的一个版本，在更长的波长（>700nm）下具有更高的灵敏度。 性能特点
04.23
2023
LynceeTec全息显微镜Reflection DHM
Reflection DHM 是反射配置的全息显微镜。它们是测量全反射和部分反射物体的理想选择。它们能够处理低反射界面（反射率低至1%以下），是对各种样品进行准确光学形貌测量的理想仪器。 性能特点 高采集率和易用性 实现快速常规检查、自动化工业质量控制以及创新的研发应用，尤其是动态观测 DHM与可选的频闪模块和用于MEMS分析和反射率分析的后分析软件兼容 每个DHM都可以用自己的结构
04.23
2023
Metricon棱镜耦合器2010
Metricon 2010/M 型棱镜耦合器利用先进的光波导技术快速准确地测量介质和聚合物薄膜的厚度和折射率/双折射率以及散装材料的折射率。 性能特点 ◆通用性 Model 2010/M 数据分析软件是完全通用的，几乎可以测量任何薄膜，而无需了解薄膜或基材的光学特性。 ◆折射率精度、分辨率和稳定性 棱镜耦合技术为薄膜测量提供比任何其他薄膜测量技术更高的折射率精度和分辨率。此外，由于折
04.23
2023
QUANTUM OPUS单光子探测器Opus One
Opus One检测系统配有定制的紧凑型台式低温恒温器、光学实验室友好型水冷压缩机（低空气循环、低噪音、低热量输出）、偏置和高速放大器电子设备以及易于使用的软件控制库。专有的材料降低了低温系统的复杂性，并允许系统连续运行~3年而不会中断或充电。 性能特点 Quantum Opus提供效率高、低噪声、低抖动的探测器。 自定义波长下的高系统检测效率。 可提供宽带和其他自定义响应曲线。 3
04.23
2023
GPD大面积砷化镓光电二极管GAP2000
GPD Optoelectronics成立于1973年。我们起初生产高质量的锗晶体管，但自20世纪80年代初以来，我们已成为值得信赖的制造商。随着经验的积累，我们的技术能力和生产能力不断提高，我们的规模翻了一番，搬到了新罕布什尔州塞勒姆的一个新工厂。我们相信，通过诚信和信任的运营，我们可以推动组织不断改进，从而加强我们与员工和客户的关系。GPD Optoelectronics 的 GAP2000有用直径为2.0mm，具有高分流电阻，高灵敏度。
04.23
2023
Siskiyou溶液切换器MXPZT
MXPZT-300 系列溶液切换器使用高速压电挠曲导向纳米定位器在溶液切换应用中移动移液器吸头。它将相对于记录电极的θ玻璃溶液流切换到非常接近理论最大速度；典型的细胞响应曲线低于 200 微秒。该系统非常适合测量细胞对药物或溶液中其他元素的反应。 压电运动由普通录音放大器设备的输入触发，可以控制距离、频率和停留时间。MXPZT-300 包括压电放大器盒和 Input-Shaping® 板，可显着减少移液器吸头振动。它可以重新编程，以几乎消除特定配置独有的共振。 具有 250 微米横向行
04.23
2023
ESI激光加工平台Garnet
在陶瓷，复合材料，织物，玻璃，金属，蓝宝石和硅上始终可以进行精确的材料加工 使用适应范围广泛的激光引擎（包括CO2，IR，绿色和UV）来使吞吐量更大化 通过系统控制体系结构能够对吞吐量进行基准测试 在具有300 x 300载物台面积的较大零件上进行批量生产 光学测量系统 流程可移植性 自动化（启用） 操作模式下为Class 1 Garnet微加工平台是ESI构建的低成本拥有平台。经过优化，可以以中等精度的激光的高精确度实现激光打标，激光切割，激光雕刻，激光打孔和高级PCB切割的大批量生产。该平台利用了ES
04.23
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