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BRUKER元素分析仪
名称:  BRUKER元素分析仪
型号:  XFlash®7
品牌:  BRUKER
产地:  德国
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发布时间:  2023-03-29
浏览次数:  449
产品详情

德国BRUKER致力于让科学家能够取得突破性发现,并开发新的应用以提高人类生活质量。德国BRUKER布鲁克的高性能科学仪器和高价值的分析和诊断解决方案使科学家能够探索分子、细胞和微观层面的生命和材料。凭借与客户的密切合作,布鲁克在生命科学分子研究、应用和制药应用以及显微镜、纳米分析和工业应用等领域实现了创新突破和生产力提升,并创造了诸多客户成功案例。近年来,德国BRUKER布鲁克也成为细胞生物学、临床前成像、临床影像学和蛋白质组学研究、临床微生物学和分子病理学研究的高性能系统的提供者。以下就是深圳市华联欧国际贸易有限公司为大家介绍的德国BRUKER分析仪(BRUKER元素分析仪产品说明),华联欧专注自动化电子电气工控设备经销,品质高,稳定性高,性价比高,优势供应DNH全系列产品,100%原装正品,价格优,货期短,欢迎来电咨询!

德国BRUKER布鲁克制造的元素分析仪可以检测从亚ppb级痕量一直到100%的含量范围。简便易用的解决方案包帮助客户以满足ASTM、DIN、ISO和FDA等标准和规范的要求,开展过程和质量控制。得益于高分析准确度和精密度,不论是在实验室,还是在现场,都可以利用它进行学术研究。

布鲁克的电子显微镜分析仪包含EDS、WDS、EBSD和SEM上的微区XRF,它们为目前可用的材料提供了最全面的成分和结构分析。目前,这些分析仪器完全集成到ESPRIT 2软件中,使您能够轻松组合不同设备,通过互补的方法获得数据,达到更好的表征效果。

德国BRUKER分析仪亮点
①有效输出计数可达1,000,000 cps。
②无与伦比的分析速度。
③更大的采集立体角。
④优化的几何结构,更快的采集速度,更高的测试效率。
⑤包含所有K,L,M和N线系的全系原子数据库,可以对复杂的数据进行定量分析。

BRUKER元素分析仪,用于SEM,FIB-SEM和EPMA的能量分散谱仪
①布鲁克的最新一代QUANTAX EDS XFlash®7能谱探头具有最大的采集立体角(Solid Angle)和更高的输出计数率。
②XFlash®7继续引领扫描电子显微镜(SEM)、聚焦离子束(FIB-SEM)和电子探针(EPMA)上能谱分析的性能与功能的标准。
③XFlash®7探头还为TEM和SEM中可以透过电子的样品提供了优化的解决方案,此外,独特的XFlash®FlatQUAD为一些高难度样品提供了更好的解决办法。
④Slim-line技术,大立体角设计,最新一代脉冲处理器,以及维护预警系统使系统运行时间达到最大化。
⑤更好的能量分辨率和采谱性能。
⑥精致的定量算法,独特的有标样和无标样定量分析方法有效提高了分析结果的准确性。

德国BRUKER元素分析仪高效的元素分析
①每一套EDS系统都独立进行优化,保证以更快的速度得到更精确的结果。
②更大的输出计数率使测量时间大大缩短,可以在任何条件下进行定量和面分布分析而不再受数据量的困扰。
③优化的结构设计,可以分析各种高难度的样品。
④优化的设计降低了背底和吸收的影响,使定量结果更为准确可靠。
⑤更低的背底和吸收使检测限更小,可以检测到更低含量的元素。
⑥一体化的ESPRIT软件平台将EDS,WDS,EBSD和微区-XRF无缝组合,成为一个综合的分析平台,可用于所有的SEM,FIB-SEM以及EPMA。
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德国BRUKER元素分析仪用于完整数据挖掘的最先进的定量能量色散X射线光谱(EDS)包括:
①灵活且易于使用的分析软件包ESPRIT,具有开放的用户界面:即见即所得。
②具有学生或实验室网络的个人或LAN访问的离线分析选项。
③量化步骤选项:易于使用的默认建议、单独设置、详细修改和保存/重新加载配方。
④3种不同的量化方法涵盖了基于理论和实验Cliff-Lorimer因子以及Zeta因子和缺失Zeta因子插值的所有可能场景。
⑤40 keV以上的TEM特定高能元素线可用于量化,确保明确的结果。
⑥可选择3种重要的背景模型:一个物理模型用于散装,一个物理模型用于薄片以及一个数学模型。
⑦已经包含在Cliff-Lorimer量化中的吸收校正。

德国BRUKER元素分析仪TEM、STEM和SEM(T-SEM)中电子透明样品的高分辨率元素分布分析
①EDS方面的长期专业知识确保为您的特定显微镜(STEM、TEM或SEM)配置最佳解决方案,这要归功于每个显微镜极片和EDS法兰类型的细线检测器设计和几何优化。
②最大收集和起飞角度允许快速和高度灵敏的数据采集。
③快速移动的稳定检测器台。
④针对周期性特征的特殊漂移校正程序可确保在纳米级成功进行EDS。
⑤用于现场实验的时间分辨数据采集,适用于在高温下保存不断变化的数据流,fe。
⑥使用用于生成特定分析作业和批处理的脚本和API选项实现数据采集和分析过程的自动化。
⑦由于完全避免了机械和电磁干扰,避免或保持在最低限度的样品倾斜、吸收、阴影和系统峰值,因此不需要或需要最少的采集后校正的干净数据。
⑧对市场上电子透明样品的EDS数据进行最成熟的量化,提供了具有明确结果的彻底数据挖掘。
⑨凭借在TEM方面的长期经验,可提供最高质量的协助和培训,以充分利用您的系统。

德国BRUKER元素分析仪产品说明
对纳米级半导体结构的理解大多需要高端分析扫描透射电子显微镜,包括各自的方法组合和复杂的样品制备。在这里,最近对UV-LED进行了SARS-CoV-2和多重耐药细菌的皮肤耐受性灭活测试。涂层结构可以提高电池(SSB和LIB)的NCM正极材料的电容保持率。新一代XFlash®检测器使以非常高的输入计数率(ICR)进行映射成为可能。该示例展示了XFlash®检测器在非常高的计数率下对具有重叠峰(Si和W)的元素组合进行映射的能力。

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